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光學膜厚儀工作原理和使用注意事項

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   光學膜厚儀利用光學的特點,能夠直接檢測出物件涂層、或者是其它物件的厚度。光學膜厚測量儀所利用的工作原理,便是光的折射與反射。
 
  這種儀器在使用時,擺放在物件的上方,從儀器當中發射了垂直向下的可視光線。其中一部分光會在膜的表面形成一個反射,另一部分則會透過儀器的薄膜,在薄膜與物件之間的界面開成反射,這個時候,薄膜的表面,以及薄膜的底部同時反射的光會造成干涉的現象。儀器便是利用了這樣的一種現象,從而測量出物件的厚度。厚度的測量看似簡單,實測上所利用的光反射原理,卻是需要經過一系列的設計才能達到如此理想狀態。如此光學膜厚測量儀的使用,便也有著其它傳統測厚儀所沒有的優點。
 
  光學膜厚儀的使用注意事項:
  1.零點校準
  在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準,因為之前的測量參數會影響該次對物體的測量,零點校準可以消除前次測量有參數的影響,能夠降低測量的結果的誤差,使測量結果更加精確。
 
  2.基體厚度不宜過薄
  在使用光學膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄,否則會極大程度的影響儀器的測量精度,造成數據結果不準確,影響測量過程的正常進行。
 
  3.物體表面粗糙程度
  對于被測物體的表面不宜太過粗糙,因為粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光學測量儀的測量精度,造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑,以保證測量結果的精確性。

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